IT・サイエンス

RSS

[写真]阪大、素粒子ミュオンを使って物質を透視する新しい手法を開発

2014年5月31日 20:12

  • このエントリーをはてなブックマークに追加
電子ビームX線分析とミュオンビームX線分析の違いを示す図。表面近傍を見る電子ビームに対し、透過力の高いミュオンビームは入射エネルギーを変えることで、バルク状態の任意の深部まで届く（大阪大学の発表資料より）

電子ビームX線分析とミュオンビームX線分析の違いを示す図。表面近傍を見る電子ビームに対し、透過力の高いミュオンビームは入射エネルギーを変えることで、バルク状態の任意の深部まで届く（大阪大学の発表資料より）

この写真の記事を読む

「サイエンス」の写真ニュース