東芝：半導体テスターのテスト時間短縮に貢献するターンオン時間の高速化を実現した小型フォトリレー発売について

東芝：半導体テスターのテスト時間短縮に貢献するターンオン時間の高速化を実現した小型フォトリレー発売について

（川崎）- （ビジネスワイヤ） -- 東芝デバイス＆ストレージ株式会社は、半導体テスター向けにターンオン時間を当社既存製品^[注1]より高速にしたS-VSON4T^[注2]パッケージのフォトリレー「TLP3414S」と「TLP3431S」を製品化しました。新製品の阻止電圧定格とオン電流定格は、TLP3414Sが40V/250mA、TLP3431Sが20V/450mAです。本日から出荷を開始します。

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東芝：半導体テスターのテスト時間短縮に貢献する小型フォトリレー「TLP3414S」および「TLP3431S」 （画像：ビジネスワイヤ）

新製品は、入力側の赤外発光ダイオードの光出力向上と、受光素子 (フォトダイオードアレイ) の最適化設計により、光結合効率を高めました。これにより、ターンオン時間を最大150μsに短縮し、高速化を実現しました。TLP3414Sは当社既存製品TLP3414と比べて最大ターンオン時間を約50％、TLP3431Sは当社既存製品TLP3431と比べて約62％短縮しています。
また、出力オン時の信号減衰に影響するオン抵抗 (TLP3414S : 最大値3Ω、TLP3431S : 最大値1.2Ω) と、出力オフ時の高周波信号漏れに影響する端子間容量 (出力側) (TLP3414S、TLP3431Sともに標準値6.5pF) は当社既存製品^[注1]と同等で、安定した信号伝達が可能です。

新製品は、テスト対象デバイス (DUT^[注3]) を高速に信号切替えしながら精度よく計測する、半導体テスターのピンエレクトロニクス^[注4]などに適しています。

パッケージは、小型のS-VSON4Tを採用し、当社既存製品のVSON4パッケージ^[注5]と比べて、実装面積を約20%削減しています。これにより、半導体テスターなどの小型化に貢献します。

今後も当社は、半導体テスターの高性能化・高速化に対応した製品を提供していきます。

[注1] VSON4パッケージの当社既存製品TLP3414 (定格40V/250mA)、TLP3431 (定格20V/450mA)

[注2] S-VSON4Tパッケージ : 1.45×2.0mm (typ.)

[注3] Device Under Test (DUT)

[注4] ピンエレクトロニクス (PE) : DUTへの電源やテスト信号の供給、およびDUTからの出力信号判定を行うインターフェース回路。

[注5] VSON4パッケージ : 1.45×2.45mm (typ.)

応用機器

半導体テスター (高速メモリーテスター、高速ロジックテスターなど)プローブカード計測機器新製品の主な特長

高速ターンオン時間 : tON=150μs (max)低オン抵抗
TLP3414S RON=3Ω (max)
TLP3431S RON=1.2Ω (max)小型S-VSON4Tパッケージ : 1.45×2.0mm (typ.)、t=1.3mm (typ.)新製品の主な仕様

(Ta=25°C)

品番

TLP3414S

TLP3431S

パッケージ

当社名称

S-VSON4T

サイズ (mm)

1.45×2.0 (typ.)、t=1.3 (typ.)

接点方式

1a

(ノーマリーオープン)

絶対最大定格

阻止電圧 VOFF (V)

40

20

オン電流 ION (mA)

250

450

オン電流 (パルス) IONP (mA)

750

1350

動作温度 Topr (°C)

-40～110

絶縁耐圧 BVS (Vrms)

AC、60s、

R.H.≦60%

500

結合特性

トリガーLED電流 IFT (mA)

Max

3

オン抵抗 RON (Ω)

Typ.

2

0.8

Max

3

1.2

電気的特性

端子間容量 (出力側) COFF (pF)

Typ.

6.5

スイッチング特性

ターンオン時間 tON (μs)

Max

150^[注6]

ターンオフ時間 tOFF (μs)

100^[注6]

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[注6] 測定条件 : TLP3414SはRL=200Ω、VDD=20V、IF=5mA、TLP3431SはRL=200Ω、VDD=10V、IF=5mA

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デジタルマーケティング部
長沢 千秋
e-mail: semicon-NR-mailbox@ml.toshiba.co.jp

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