NTT株式会社のプレスリリース
世界初、陽子と中性子による半導体の障害発生率の同一性を実証 ~宇宙環境における障害評価を中性子試験のみで実現、太陽フレア等の備えを効率化~
- 発表会社
- NTT株式会社
- 配信日時
- 2026-02-27 15:08:22
- カテゴリ
- 製品
世界初、陽子と中性子による半導体の障害発生率の同一性を実証 ~宇宙環境における障害評価を中性子試験のみで実現、太陽フレア等の備えを効率化~