(a) 放射性微粒子(灰色の部分)の断面からの透過電子顕微鏡像。(b)微粒子からの電子回折(注4)。(c, d) 微粒子の組成を示すX線スペクトル。(e, f) もうひとつの放射性微粒子からの透過電子顕微鏡像と電子回折。粒子の表面近傍にコントラストが薄い部分が観察され、この部分ではセシウム等のアルカリ成分がガラスから溶出していた。(東京大学の発表資料より)
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(a) 放射性微粒子(灰色の部分)の断面からの透過電子顕微鏡像。(b)微粒子からの電子回折(注4)。(c, d) 微粒子の組成を示すX線スペクトル。(e, f) もうひとつの放射性微粒子からの透過電子顕微鏡像と電子回折。粒子の表面近傍にコントラストが薄い部分が観察され、この部分ではセシウム等のアルカリ成分がガラスから溶出していた。(東京大学の発表資料より)
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