東芝：ターンオン時間の高速化により半導体テスターのテスト時間短縮に貢献する小型フォトリレー発売について

東芝：ターンオン時間の高速化により半導体テスターのテスト時間短縮に貢献する小型フォトリレー発売について

（川崎）-（ビジネスワイヤ） -- 東芝デバイス＆ストレージ株式会社は、ターンオン時間を当社既存製品^[注1]から半減したS-VSON4Tパッケージのフォトリレー「TLP3476S」を製品化し、本日から出荷を開始します。

本プレスリリースではマルチメディアを使用しています。リリースの全文はこちらをご覧ください。：https://www.businesswire.com/news/home/20230524005358/ja/

東芝：半導体テスターのテスト時間短縮に貢献する小型フォトリレー「TLP3476S」 （画像：ビジネスワイヤ）

新製品は、赤外LEDの光出力向上と受光素子 (フォトダイオードアレイ) の最適化設計により光結合効率を高めました。これにより、ターンオン時間を最大0.25msと高速化しました。当社既存製品^[注1]と比べて50％短縮しています。

パッケージは、小型のS-VSON4Tを採用し、厚みを当社既存製品^[注1]のS-VSON4と比べて20%削減、最大1.4mmに低背化しています。これにより、複数基板を要する機器の小型化に貢献します。

新製品は、多数のリレーを使用し、かつリレーの切替時間短縮が求められる半導体テスターのピンエレクトロニクスなどに適しています。

[注1] 当社既存製品TLP3475S

応用機器

半導体テスター (高速メモリーテスター、高速ロジックテスターなど)プローブカード計測機器新製品の主な特長

小型S-VSON4Tパッケージ : 1.45mm×2.0mm (typ.)、t=1.4mm (max)高速ターンオン時間：tON=0.25ms (max)新製品の主な仕様

 

 (@Ta=25°C)

品番

TLP3476S

パッケージ

名称

S-VSON4T

サイズ (mm)

1.45×2.0 (typ.)、t=1.4 (max)

絶対最大定格

阻止電圧 VOFF (V)

60

オン電流 ION (A)

0.4

オン電流 (パルス) IONP (A)

1.2

動作温度 Topr (°C)

－40～110

結合特性

トリガーLED電流 IFT (mA)

max

3.0

オン抵抗 RON (Ω)

typ.

1.1

max

1.5

電気的特性

端子間容量 (出力側) COFF (pF)

max

20

スイッチング特性

ターンオン時間 tON (ms)

@RL=200Ω、

VDD=20V、

IF=5mA

max

0.25

ターンオフ時間 tOFF (ms)

0.2

絶縁特性

絶縁耐圧 BVS (Vrms)

min

500

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