NTT株式会社のプレスリリース
世界初、半導体メモリ素子DRAMセルの熱とエントロピーを単電子スケールで同時測定 ~最小消費エネルギーの理論限界に迫る情報処理デバイス実現へ~
- 発表会社
- NTT株式会社
- 配信日時
- 2026-04-23 15:08:24
- カテゴリ
- 製品
世界初、半導体メモリ素子DRAMセルの熱とエントロピーを単電子スケールで同時測定 ~最小消費エネルギーの理論限界に迫る情報処理デバイス実現へ~