検査装置のタカノ、12月11日から13日に開催される「SEMICON Japan 2024」に出展、新サービスの提供開始

半導体市場向けの欠陥検査装置に加えて、PSL塗布ウェーハも販売開始



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SEMICON Japan 2024ブースイメージ

タカノ株式会社(本社：長野県上伊那郡宮田村、代表取締役社長：鷹野 準)は、2024年12月11日(水)～13日(金)に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2024」に出展いたします。デバイスメーカー、ファウンドリー、装置メーカー、材料メーカーなどに向けた半導体向け検査装置、外観検査装置を出展いたします。タカノでは、光学からレーザー検査まで幅広い範囲をカバーしております。

今回、検査装置に加え、PSL粒子塗布ウェーハの販売開始もSEMICON Japan 2024にて初めてご紹介いたします。本サービスは、製造プロセスにおける品質管理に大きく貢献することが期待されています。ぜひ、タカノブースへお立ち寄りください。

SEMICON Japan 2024 概要
開催日程　　　　：2024年12月11日(水)～13日(金)
開催時間　　　　：10:00～17:00
開催場所　　　　：東京ビッグサイト
主催　　　　　　：SEMIジャパン
公式HP：https://www.semiconjapan.org/jp
出展ブース番号　：東ホール、ホール5、No. 5221

※ 事前登録で入場料無料となります。来場者事前登録サイトよりお申し込みください。
▽展示会招待券お申込み(無料)サイトはこちら
https://www.semiconjapan.org/jp/about/pricing-and-register
出展内容のご案内

ウェーハ表面検査装置（WMシリーズ）
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WM-10R
[画像3: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/88/49013-88-98b5fdfe46282fef0fecfe7b487b81bd-2451x2700.png?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
WM-7SR

半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせない検査システムです。
ナノレベルのパーティクル（異物）を検出することが可能で、国内外にて数多く使用していただいております。光源には半導体レーザーを使用しており、ランニングコストの軽減になります。
WM-7SR、WM-10Rは、国際的な安全認証を取得しております。

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/

ウェーハ外観検査装置（Viシリーズ）
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Vi-4207
[画像5: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/88/49013-88-ecbba3c87d14f5f1594314be2ef8bc67-473x505.png?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
Vi-4307
[画像6: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/88/49013-88-5f01badece820413602b1114e9d26655-473x505.png?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
Vi-5301

ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、5種類のラインナップからご提案できます。

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/


全面膜ムラ検査装置（Thinspector）
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全面膜ムラ検査装置（Thinspector）

1スキャンでウェーハ全面の膜厚測定、ムラ検査を高速に行い、抜けのない膜厚管理を行うことができます。

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/thinspector/


全面高さ検査装置 ALTAX
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パッケージ向け ALTAX FS3/FS6
[画像9: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/88/49013-88-b82c3b47f21adfda0ae213e13fb1269e-3900x3900.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
ウェーハ向け ALTAX 300EX


半導体ウェーハやBGA、CSPなどのパッケージ基板に形成されたバンプの高さ、径およびコプラナリティを新型検査ユニット“Mervel”にて高速かつ高精度に測定します。
独自に改良を重ねた光学系とデータ処理方法(Time Delay Scanning)の採用により、これまでの光切断方式にない高精度測定が可能となりました。

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/


フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ
[画像10: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/88/49013-88-a53f275f9960a01bf33ddc779e696037-3900x2193.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ

Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。

詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/one/


PSL粒子塗布ウェーハ販売開始（新サービス）
半導体装置の管理に欠かせないPSL（ポリスチレンラテックス）粒子を塗布したウェーハの販売を開始いたします。PSL粒子塗布ウェーハは、ウェーハ表面パーティクル検査装置の校正や評価に使用され、検査装置の検出感度や精度を確保するための重要な役割を果たします。
ご要望に応じてさまざまな粒径のPSL粒子をウェーハに塗布することが可能です。
これにより、製造プロセスにおける異物管理や装置の性能維持、歩留まりの向上に貢献いたしますので、ぜひ、『PSL粒子塗布ウェーハ』を通じて、御社の半導体製造プロセスの品質向上にお役立てください。
詳細については、SEMICON Japanのタカノブースにて発表いたしますので、最適なPSL塗布サービスに関するご相談もぜひお声掛けください。
タカノについて
「製造業から『創造業』へ」
ばねの製造に始まり、オフィス家具、エクステリア製品へ。そして先進のエレクトロニクス製品、さらには医療・福祉関連製品、臨床検査薬へとタカノは次々に新分野への参入を実現し、常に新しい製品の開発にチャレンジしてきました。この展開力こそがタカノの特色であり、発展の源です。
「常に高い志を持ち、社会のルールを守り、世の中の変化を見すえ、持続的成長・発展を通じ、豊かな社会の実現に貢献する」という経営基本理念にのっとり、これからもあらゆる角度から可能性を追求し、未踏の領域に挑戦していきます。

【会社概要】
会社名　： タカノ株式会社
東京証券取引所スタンダード市場上場(証券コード：7885)
所在地　： 長野県上伊那郡宮田村137
代表者　： 代表取締役社長　鷹野 準
創業　　： 1941年7月1日
設立　　： 1953年7月18日
URL　　 ： https://www.takano-net.co.jp
事業内容： 事務用椅子、その他椅子等のオフィス家具、ばね、エクステリア製品、エレクトロニクス関連製品　(画像処理検査装置、電磁アクチュエータ)、医療・福祉機器の製造ならびに販売

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